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Nanoscale mapping of Sub-gap electroluminescence from step-bunched, oxidized 4H-SiC surfaces

par Anne-Marie - publié le

En utilisant une nouvelle approche expérimentale, la microscopie de luminescence à effet tunnel (STLM), le groupe EPS avec ses collaborateurs en Suisse et en Australie, a cartographié l’émission de lumière à partir de surfaces de carbure de silicium dite "step-bunched" qui abritent d’intenses émetteurs de photons uniques associés à des défauts nanométriques cristallins. Le STLM est capable de résoudre spatialement l’émission de photons jusqu’à cette échelle nanométrique. Ce travail a fait la couverture de Physica Status Solidi B avec une image artistique des cartes présentées dans l’article. Les "gratte-ciel" indiquent l’émission de lumière à partir de zones où les densités de défauts sont élevées (appelées "risers"), tandis que les zones plus sombres correspondent à des terrasses cristallines exemptes de défauts. La pointe du STLM plane de manière menaçante au-dessus de la ville.